クオルテック

受託分析、故障解析、信頼性評価から研究開発まで
トータルクオリティソリューションの「クオルテック」


未来品質 トータル・クオリティ・ソリューション

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お知らせ

お知らせ 高性能解析装置によるソリューション・サービスのご案内

X線CTやプラズマFIB、EBSD等で、サンプルを高精度に観察する先進のソリューション・サービスをご提供しています。

高性能解析装置によるソリューション・サービスのご案内

お知らせ X線光電子分光法を用いた分析手法

絶縁物の測定が可能なため、金属・半導体・高分子・セラミック・ガラス等さまざまな材料の研究開発や不良解析に利用されています.

X線光電子分光法を用いた分析手法

お知らせ X線CTの分析原理および特徴とその観察例

物体を様々な方向からX線で撮影し再構成処理を行います。非破壊の評価が可能です。

X線CTの分析原理および特徴とその観察例

事例紹介

分析・故障解析高性能解析装置によるソリューション・サービスのご案内

X線CTやプラズマFIB、EBSD等で、サンプルを高精度に観察する先進のソリューション・サービスをご提供しています。 詳細はこちら

高性能解析装置によるソリューション・サービスのご案内

分析・故障解析X線光電子分光法を用いた分析手法

絶縁物の測定が可能なため、金属・半導体・高分子・セラミック・ガラス等さまざまな材料の研究開発や不良解析に利用されています.
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X線光電子分光法を用いた分析手法

分析・故障解析X線CTの分析原理および特徴とその観察例

物体を様々な方向からX線で撮影し再構成処理を行います。非破壊の評価が可能です。
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X線CTの分析原理および特徴とその観察例

品質技術

品質技術【業界初】サーモマイグレーション試験の紹介

1000℃/cm以上の温度勾配が存在するはんだ接合部でのサーモマイグレーション(Thermo Migration)現象とTM試験を紹介します。 PDFはこちら

【業界初】サーモマイグレーション試験の紹介

実装技術高電圧、高温下で発生するエレクトロケミカルマイグレーション

高電圧におけるプリント基板の放電・エレクトロケミカルマイグレーションの評価要求が増加している現状についてご紹介します。 PDFはこちら

高電圧、高温下で発生するエレクトロケミカルマイグレーション

実装技術エレクトロマイグレーションの発生し易い状況

エレクトロマイグレーション試験の簡易方法を提供するとともに、その試験片を使用した実験結果の一部を報告します。 PDFはこちら

エレクトロマイグレーションの発生し易い状況

セミナー/社内勉強会


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本社・分析センター 大阪府堺市堺区三宝町
4丁231-1
TEL:072-226-7175
FAX:072-226-7176
レーザ加工・表面処理実験室 大阪府堺市堺区三宝町
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研磨センター 大阪府堺市堺区三宝町
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PC試験装置開発室 大阪府堺市堺区鉄砲町
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信頼性試験センター 大阪府堺市西区築港新町
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名古屋品質技術センター 愛知県豊明市西川町笹原
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東京営業所/東京テクニカルラボ 東京都大田区大森南
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