クオルテック

受託分析、故障解析、信頼性評価から研究開発まで
トータルクオリティソリューションの「クオルテック」


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分析・故障解析

正確・迅速な解析・分析作業で不具合の因果関係を徹底究明。

高度な専門性や機密性が求められるリコール製品の解析・分析作業でもアウトソーシングするケースが増えつつある昨今。「より早くより安く結果を出せる」「多岐にわたる分野を専門的にカバーできる」そんな企業ニーズにお応えするのがクオルテックの分析・故障解析。電気・物理・化学分野出身で電子部品を専門とする技術者が製品の故障解析に留まらず、問題解決 = ソリューションまでもご提案。
これまでに蓄積された高度なノウハウと最新の設備機器を駆使し「安心と信頼、そして満足と感動をあなたに!」をモットーに解析・分析作業に取り組んでいます。

分析・故障解析一覧

分析・故障解析一覧 X線観察 マイグレーション・ウイスカ観察 導通異常分析 異物分析(FT-IR) 超音波顕微鏡検査(C-SAM)

X線観察

  • X線観察
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マイグレーション・ウイスカ観察

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導通異常分析

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ショート異常分析
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ICチップの接続異常分析
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異物分析(FT-IR)

  • 異物分析(FT-IR)
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マッピング分析
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  • マッピング分析
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超音波顕微鏡検査(C-SAM)

  • 剥離検査剥離検査
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  • 任意層観察任意層観察
  • 有機物観察有機物観察
BGA剥離異常分析
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分析・故障解析フロー

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