Apr
東京テクニカルラボにX線透視観察装置を導入しました
X線透視観察装置(XD-7600)が、東京テクニカルラボに導入されました。
東日本エリアの半導体・電子部品関連メーカー様からの検査依頼に、よりスピーディーに対応します。
東京ラボでは、このほか「耐候性試験」、「冷熱衝撃試験」など各種試験設備を整備しています。
相談から打ち合わせ、試験依頼、立合い検査まで東京の営業担当が対応させていただきます。
X線透視観察とは・・
X線により、電子機器内部の状態を観察します。
半導体デバイスでは、パッケージ内部の異物やワイヤーボンディングの変形等を観察します。
電子部品では、はんだ実装のボイドやクラックを検査します。
■X線透視観察装置(XD-7600)概要
製造元:dage社
型式:XD-7600
管電圧:30~160kV、焦点サイズ:0.25μm、幾何学倍率最大1800倍。
重さ5kg、幅440mm×長さ500mm×高さ130mmまでの試料の観察が可能。
X線検出器を最大70度まで傾斜させられるので、重なり合う箇所でも角度調整により観察可能。
■解析項目
異物混入の内部観察
基板スルーホールのパタン断線等のオープン観察
BGAはんだ接合観察
-
2024.
Nov19新着情報法令調査サービスについてのご案内
-
2024.
Nov19新着情報蛍光塗料樹脂を使用し、微細なクラック・剥離を鮮明に観察します。
-
2024.
Nov05新着情報屋外で使用される電子機器や自動車部品を、塵埃の厳しい環境でも正常に機能するか評価します。
-
2024.
Oct22新着情報試料表面の状態を評価する「AES(オージェ電子分光分析)分析法」
-
2024.
Oct08新着情報熱衝撃試験のご案内 ~液槽熱衝撃試験、ホットオイル試験~
-
2024.
Oct01新着情報様々な環境変化に伴って発生するウィスカ現象を、お客様に合わせた評価プランでご提案します。
-
2024.
Sep12新着情報価格改定のお願い
-
2024.
Sep10新着情報アルミパッドのアルミだけを溶解し、ボンディングの影響を確認することができます。
-
2024.
Aug27新着情報セラミックなどの超硬合金材に対しても高精度な断面出しが可能です。