様々な環境変化に伴って発生するウィスカ現象を、お客様に合わせた評価プランでご提案します。

様々な環境変化に伴って発生するウィスカ現象を、環境試験と観察・解析をトータルでご提案します。
また、観察・解析のみのご対応も可能です。

弊社では、様々なお客様のニーズにお応えするため、下記項目を必要に応じて組合わせた評価プランをご提案します。
 
⓪：初期観察…実体顕微鏡、走査型電子顕微鏡（SEM）など。
 
①：環境試験…室温、高温高湿、温度サイクルなど。
 
②：試験後、ウィスカ発生の有無チェックを実体顕微鏡やデジタルマイクロスコープなどを使い、観察・撮影・測長を実施。
 
③：必要に応じて、走査型電子顕微鏡（SEM）などを使用してのウィスカ観察・撮影・測長。
 
④：観察・分析結果のまとめ、報告書作成。
 
上記のご提案プランに際し、ご指定の撮影方法や報告書の作成方法がございましたら、ご依頼時にお申し付け下さい。
また、必要に応じて本観察前に部品の解体等も行います。
観察・解析を取り扱う品目については、電子部品や一般の電子機器が多数を占めますが、あらゆるウィスカの発生状況に対応してご提案ができればと考えております。

※各装置仕様はカタログ値となります。
実評価では適用できない可能性もありますので、お問い合わせください。