気圧が低い状態での貯蔵、輸送又は使用する電子部品、電子機器製品の影響を調べる「減圧電気特性試験」
概要
温度の規定が無い減圧試験はJIS C 60068-2-13、高温環境下の減圧試験はJIS C 0031でのJIS C 60068-2-13 によると、減圧試験の目的は、部品・機器またはその他の製品（供試品という）を気圧が低い状態で貯蔵、輸送又は使用することができる能力を調べることを目的としております。
大気圧から真空までの気圧範囲で、制御された一定気圧の環境に保持した製品又は電子部品の電気特性を評価したり、その気圧に長時間放置した場合の特性の変動を調査することを目的とした試験です。
試験条件
供試品を試験槽内の設置し、槽内気圧は製品規格の規定の圧力まで減圧します。
規定の気圧・試験時間放置します。
JIS C 60068-2-13における気圧及び試験時間を表1に、JIS C 0031における温度及気圧及び試験時間を表2に示します。
表1.JIS C 60068-2-13おける条件表
表2.JIS C 0031における条件表
設備イメージ
試験装置仕様
型番：VAC-200PR
メーカ：ESPEC
気圧：1hPa～922hPa
温度：＋40℃～＋200℃
温度変動：±0.5℃（真空）
±1.0℃（大気圧）
槽内サイズ：W500×H500×D500
印加電圧：AC & DC 5.0kV MAX
試験用途
減圧下における製品の気密性試験、絶縁性試験
対応規格
JIS C 60068-2-13, JIS C 0031
