カーブトレーサなどの装置を用いて、IC（集積回路）の電気的静特性を測定します。

IC静特性検査では、カーブトレーサを使用します。
カーブトレーサはダイオードやトランジスタ、光電子部品などの各種半導体素子の電流-電圧(I-V)特性を測定するための装置です。
良品解析では、データシートを基に仕様通りの特性を有しているかを検査することを目的とし、故障解析では、良品との波形比較を行い、異常箇所を特定することを目的としています。

・オープンやショートなどの異常モードの特定ができます。
・良品と環境試験品との比較で異常を特定できます。

測定対象物に掃引（自動的に変化する）された電圧を印加して、その時に流れる電流を測定し、I-V曲線として画面に表示されます。