半導体デバイスの電気的破壊試験と故障解析
再現実験を行い、破壊ストレスと破壊の因果関係を明らかにします。代表的な破壊要因として、EOS破壊とESD破壊の再現実験を行いました。
受託分析、故障解析、信頼性評価から研究開発までトータルクオリティソリューションの「クオルテック」
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